Valgust kiirgava dioodi leke või lühis avaldub kiibi impedantsi vähenemiseja juhtivuse suurenemisena, see on täiendav elektrit juhtiv tee valgust kiirgavale dioodikiibile, mis on samaväärne takistiga paralleelselt kiibi mõlemas otsas. Kui see takistus on väga väike ja nullilähedane , ilmub kiip lühiserikkena ja kui takistus on suur, ilmub kiip lekkerikkena. Lekke või lühise rikke peamised põhjused on: elektrostaatiline rike, liigne elektriline stress ja juhtivained kiibi pinnal.
Elektrostaatiline lagunemine on peamiselt tingitud proovi tõhusa elektrostaatilise kaitse puudumisest transportimisel, monteerimisel, katsetamisel ja tööl. Elektrostaatilise induktsiooni tekitatud kõrgepinge rakendatakse otse valgusdioodikiibi elektroodi mõlemasse otsa. Kui pinge ületab kõrgeima pinge, et kiip talub , See tühjeneb vahel kaks elektroodid kiip väga lühikese aja jooksul (nanosekund tasandil). Tekkinud elektridžauli soojus muudab valgust kiirgava dioodikiibi sisemise juhtiva kihi ja valgust kiirgava kihi kõrgeks temperatuuriks ning kõrge temperatuur sulatab need kihid väikesteks aukudeks, põhjustades leket või lühisnähtust. Üleelektriline pinge on peamiselt tingitud valgust kiirgava dioodikiibi ülemääratud kasutusest või üleelektrilisest kahjustusest, mille on põhjustanud mööduv pikselöök, lülitustoite siirdemüra ja elektrivõrgu kõikumine.
Teine peamine põhjus leke või lühise LEKe või lühise LEKe kiip on migratsiooni hõbeda küljel kiip moodustada tee: see on, sest plastist tihendusmaterjali LED ise ei ole piisavalt hea, et tõhusalt vältida niiskuse sattumist pinnale juhtiv hõbe liim. Elektrivälja toimel muutub elektrolüüs vesinikioonid ja hüdroksiidiioonid. Elektrivälja ja hüdroksiidiioonide toimel on hõbedased dissotsiadid hõbedaioonide tootmiseks. Elektrivälja toimel rändavad hõbedaioonid suurest potentsiaalist madala potentsiaalini ja moodustavad flokuleeriva või dendritic paisumise, mis moodustab valgusdioodi kiibi mõlemas otsas juhtiva tee, põhjustades kiibi lekkimise või lühise.
